掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計(jì)
掃描電子顯微鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描，將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測(cè)器收集，形成電信號(hào)運(yùn)送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。（細(xì)胞、組織）表面的立體構(gòu)像，可攝制成照片。
掃描電子顯微鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后，再於樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數(shù)，掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后，再于樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數(shù)。掃描電子顯微鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu)，由於它的景深長(zhǎng)，1mm左右的凹凸不平面能清所成像，故放樣品圖像富有立體感。掃描電鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu)，由于它的景深長(zhǎng)，1mm左右的凹凸不平面能清所成像，故放樣品圖像富有立體感。
掃描電子顯微鏡自動(dòng)定性分析是根據(jù)能量位置來確定峰位，直接單擊"操作/定性分析"按鈕，即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)定性分析，在譜的每個(gè)峰的位置顯示出相應(yīng)的元素符號(hào)。
掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)是識(shí)別速度快，但由于能譜譜峰重疊干擾嚴(yán)重，自動(dòng)識(shí)別極易出錯(cuò)，比如把某元素的L系誤識(shí)別為另一元素的K系，這是它的缺點(diǎn)。為此分析者在儀器自動(dòng)定性分析過程結(jié)束后，還必須對(duì)識(shí)別錯(cuò)了的元素用手動(dòng)定性分析進(jìn)行修正。所以雖然有自動(dòng)定性分析程序，但對(duì)分析者來說，具有一定的定性分析技術(shù)實(shí)在是*的。
掃描電子顯微鏡是通過X射線強(qiáng)度來獲取組成樣品材料的各種元素的濃度，根據(jù)實(shí)際情況，人們尋求并提出了測(cè)量未知樣品和標(biāo)樣的強(qiáng)度比方法，再把強(qiáng)度比經(jīng)過定量修正換算呈濃度比。掃描電子顯微鏡兩種定量分析方法：無(wú)標(biāo)樣定量分析法和有標(biāo)樣定量分析析法。
電子束只打到試樣上一點(diǎn)，得到這一點(diǎn)的X射線譜的分析方法是點(diǎn)分析方法。與此不同的是，用掃描像觀察裝置，使電子束在試樣上做二維掃描，測(cè)量特征X射線的強(qiáng)度，使與這個(gè)強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的亮度變化與掃描信號(hào)同步在陰極射線管上顯示出來，就得到特征X射線強(qiáng)度的二維分布的像。這種觀察方法稱為元素的面分布分析方法，它是一種測(cè)量元素二維分布的非常方便的方法。
